CertyfikatW
Certyfikat

Certyfikatdokument stwierdzający zgodność wyrobu z deklarowanymi przez wytwórcę lub określonymi w przepisach bądź normach właściwościami dokument potwierdzający prawo do wykonywania określonych w nim czynności potwierdzenie posiadania kompetencji w zakresie określonym w certyfikacie, np. poświadczający zdanie egzaminu ze znajomości języka angielskiego na określonym poziomie, czy potwierdzający znajomość obsługi komputera w różnych obszarach.

Konwencja MetrycznaW
Konwencja Metryczna

Konwencja Metryczna – traktat podpisany przez siedemnaście państw w 1875 roku w celu ujednolicenia systemu metrycznego na świecie. Depozytariuszem jest rząd Francji, językiem miarodajnym francuski.

LaboratoriumW
Laboratorium

Laboratorium – pomieszczenie przeznaczone do przeprowadzania badań naukowych lub analiz lekarskich. Wyposażone w odpowiedni do tego celu sprzęt. Laboratorium postrzegane nie jako pomieszczenie, lecz jako jednostka organizacyjna, jest zespołem złożonym z ludzi, pomieszczenia i sprzętu.

LumelW
Lumel

Lumel Spółka Akcyjna – polski producent aparatury kontrolno-pomiarowej oraz dostawca usług systemów automatyki przemysłowej i montażu kontraktowego elektroniki.

Maksymalna tolerowana fluktuacja fazyW
Maksymalna tolerowana fluktuacja fazy

Maksymalna tolerowana fluktuacja fazy – zbiór największych wartości amplitudy fluktuacji fazy wyznaczony dla pewnego, określonego zakresu częstotliwości zmian tych fluktuacji, przy których testowane dane nie powodują większej od założonej ilości błędów.

Maska telekomunikacyjnaW
Maska telekomunikacyjna

Maska telekomunikacyjna – maska określająca maksymalne dopuszczalne odchylenie amplitudy i kształtu impulsu sygnału cyfrowego; termin stosowany przy pomiarach cyfrowych traktów telekomunikacyjnych.

MiernictwoW
Miernictwo

Miernictwo – historyczna, obecnie zanikająca nazwa, odnosząca się do geodezji niższej – nauki zajmującej się wszelkimi rodzaju pomiarami lądowymi. Zwykle w geodezji jest to dział dotyczący pomiarów, przy których nie jest wymagane uwzględnianie przestrzennego kształtu Ziemi.

ParalaksaW
Paralaksa

Paralaksa – efekt niezgodności różnych obrazów tego samego obiektu obserwowanych z różnych kierunków. W szczególności paralaksa odnosi się do jednoczesnego obserwowania obiektów leżących w różnych odległościach od obserwatora lub urządzenia obserwującego, a objawia się tym, że obiekty te na obu obrazach są oddalone od siebie o odmienną odległość kątową lub też nachodzą na siebie na tych obrazach w odmiennym stopniu.

Podziałka cyfrowaW
Podziałka cyfrowa

Podziałkę cyfrową narzędzia pomiarowego tworzy zbiór wskazów w formie cyfr, które podają bezpośrednio wartość liczbową mierzonej lub nastawionej wielkości. Wyświetlana informacja jest przedstawiana najczęściej w zapisie dziesiętnym, czasem szesnastkowym lub binarnym. Podziałka cyfrowa jest prezentowana poprzez cyfrowe urządzenie wskazujące.

Podziałka kreskowaW
Podziałka kreskowa

Podziałka kreskowa − podziałka analogowa, której wskazy są zbiorem kresek, zwykle ocyfrowanych. Podziałka kreskowa może być rozmieszczona wzdłuż linii prostej, okręgu lub łuku okręgu.

Podziałka mianowanaW
Podziałka mianowana

Podziałka mianowana – podziałka, której oznaczenia liczbowe są związane z określoną jednostką miary.

PosobnikW
Posobnik

Posobnik – przetwornik napięcia na prąd. Jest to bardzo dokładny rezystor. Włączony szeregowo z miernikiem, którego wskazania są funkcją prądu, służy do rozszerzenia napięciowego zakresu pomiarowego takiego miernika.

Rozdzielczość pomiaruW
Rozdzielczość pomiaru

Rozdzielczość pomiaru - najmniejsza zmiana wielkości mierzonej na jaką reaguje przyrząd pomiarowy. Wyrażana w jednostkach wielkości mierzonej. Z rozdzielczości pomiaru wynika błąd rozdzielczości, który wpływa na dokładność pomiaru.

Świadectwo wzorcowaniaW
Świadectwo wzorcowania

Świadectwo wzorcowania – oficjalny dokument wydawany zwykle przez narodowe instytuty metrologiczne, organy administracji miar, akredytowane lub nieakredytowane laboratoria pomiarowe (wzorcujące), zawierający wyniki wzorcowania przyrządu pomiarowego i poświadczający, że wzorcowany przyrząd spełnia określone wymagania metrologiczne.

Tolerancja wymiaruW
Tolerancja wymiaru

Tolerancja wymiaru – określa zakres w jakim musi się mieścić wymiar rzeczywisty.

Układ AronaW
Układ Arona

Układ Arona – układ pomiarowy do mierzenia mocy czynnej w obwodach trójfazowych bez przewodu neutralnego za pomocą dwóch watomierzy przy symetrycznym napięciu zasilania i dowolnym obciążeniu. Nazwa pochodzi od nazwiska jego twórcy Hermana Arona

VIRTW
VIRT

VIRT – wirtualny system pomiarowy współpracujący z komputerem personalnym PC, opracowany wspólnie przez Instytut Podstaw Elektroniki Politechniki Warszawskiej oraz Instytut Maszyn Matematycznych i w tym Instytucie wyprodukowany w krótkiej serii. VIRT w połączeniu z jednostką sterującą Mazovia 1016 tworzył w pełni funkcjonalny, automatyczny system pomiarowy wielkości elektrycznych i, za pomocą czujników, niektórych wielkości nieelektrycznych. Był to system 10 paneli pomiarowych współpracujacych na szynie IEC-625 z komputerem osobistym. System został opracowany i wdrożony do produkcji w latach 1985-1989 z przeznaczeniem na eksport do ZSRR. W związku ze zmianami ustrojowymi i rozpadem kraju docelowego produkcja systemu VIRT została zaniechana.

Wskaz (metrologia)W
Wskaz (metrologia)

Wskaz – znak na urządzeniu wskazującym narzędzia pomiarowego odpowiadający określonym wartościom wielkości mierzonej przez to narzędzie.

WzorcowanieW
Wzorcowanie

Wzorcowanie – ogół czynności ustalających relację między wartościami wielkości mierzonej wskazanymi przez przyrząd pomiarowy a odpowiednimi wartościami wielkości fizycznych, realizowanymi przez wzorzec jednostki miary wraz z podaniem niepewności tego pomiaru.

Wzorzec inkrementalnyW
Wzorzec inkrementalny

Wzorzec inkrementalny − wzorzec zawierający rozłożone na przemian strefy o jednakowej szerokości różniące się właściwościami fizycznymi. Wzorzec inkrementalny do pomiaru długości ma strefy te rozmieszczone wzdłuż linii prostej, natomiast do pomiaru kątów − na tarczy albo na powierzchni walcowej. Pomiar odbywa się przyrostowo na zasadzie zliczania ilości stref. Do zliczania w obu kierunkach wymagane są co najmniej dwa detektory przesunięte względem siebie o całkowitą liczbę okresów plus ±1/4 okresu wzorca. Możliwe jest również odczytanie ułamkowej części okresu za pomocą interpolatora.